logo
المنزل > المنتجات >
اختبار المحول
>
جهاز اختبار تشوه ملفات المحولات XHBX1501 مع طريقة FRA

جهاز اختبار تشوه ملفات المحولات XHBX1501 مع طريقة FRA

تفاصيل المنتج:
مكان المنشأ: الصين
اسم العلامة التجارية: XZH TEST
إصدار الشهادات: CE/ISO
رقم الموديل: إكس إتش بي إكس 1501
معلومات مفصلة
مكان المنشأ:
الصين
اسم العلامة التجارية:
XZH TEST
إصدار الشهادات:
CE/ISO
رقم الموديل:
إكس إتش بي إكس 1501
إبراز:

High Light

إبراز:

جهاز اختبار تشوه لفائف المحولات,جهاز اختبار المحولات بطريقة FRA,جهاز اختبار المحولات مع الضمان

,

FRA method transformer tester

,

Transformer tester with warranty

Trading Information
الحد الأدنى لكمية:
1 وحدة
تفاصيل التغليف:
عبوة خشبية
وقت التسليم:
5-8 أيام العمل
شروط الدفع:
ر/ر
القدرة على العرض:
1000 وحدة في السنة
وصف المنتج
اختبار تشوه التلفيف للمحول لتحديد دقة أخطاء المحول الداخلي
The XHBX1501 Transformer Winding Deformation Tester utilizes frequency response analysis (FRA) methodology to accurately assess internal transformer faults by measuring characteristic winding parametersهذه الأداة التشخيصية المتقدمة تحدد كمية تغيرات الاستجابة عبر مجالات التردد المختلفة لتحديد شدة تشوه التلف،تمكين القرارات المستنيرة حول متطلبات صيانة المحولات.

المواصفات التقنية
المعلم القيمة
سرعة الاختبار 1-2 دقيقة لكل دورة لف
نطاق اختبار المسح 100 هرتز-2 ميغاهرتز
نطاق اختبار النطاق -100dB إلى 20dB
عائق إشارة الإخراج 1MΩ
فولتاج الخروج للإشارة 50Ω
الوزن الإجمالي 10 كجم
أبعاد الجهاز 310×400×330ملم (حافظة من الألومنيوم)
دقة تردد الفحص 0.005٪
الخصائص الرئيسية
  • ميكرو معالج عالي السرعة مع تكامل متقدم
  • خيارات الاتصال المزدوجة: منفذ USB و Bluetooth اختياري
  • تكنولوجيا DDS الرقمية لتحديد الترددات (الولايات المتحدة الأمريكية) لتشخيص الأخطاء الدقيق بما في ذلك التواء والتكبيس والنزوح وكشف الدائرة القصيرة
  • عينة A/D مزدوجة القنوات عالية السرعة ذات 16 بت مع تغيرات واضحة في شكل الموجة أثناء تشغيل آلة تغيير الصنبور
  • نطاق خروج الإشارة القابل للتعديل البرمجياً (± 10 فولت ذروة)
  • تحليل نتائج الاختبار التلقائي مع توليد مستند Word
  • أنظمة قياس مزدوجة: أنماط تردد مسح خطية ومقسمة
  • تتوافق مع معيار الطاقة DL/T911-2004 لتحليل تشوه التلفيف
  • تحليل البيانات المتقدم مع قدرات المقارنة الأفقية (المرحلة A-B-C) والطولية (التاريخية مقابل الحالية)
  • خيارات مرنة لمؤشر التردد (خطية أو اللوغاريتمية) لتوليد منحنى مخصص
  • جهاز اختبار تشوه ملفات المحولات XHBX1501 مع طريقة FRA 0 جهاز اختبار تشوه ملفات المحولات XHBX1501 مع طريقة FRA 1