جهاز اختبار تشوه لفائف المحولات,جهاز اختبار المحولات بطريقة FRA,جهاز اختبار المحولات مع الضمان
,
FRA method transformer tester
,
Transformer tester with warranty
Trading Information
الحد الأدنى لكمية:
1 وحدة
تفاصيل التغليف:
عبوة خشبية
وقت التسليم:
5-8 أيام العمل
شروط الدفع:
ر/ر
القدرة على العرض:
1000 وحدة في السنة
وصف المنتج
اختبار تشوه التلفيف للمحول لتحديد دقة أخطاء المحول الداخلي
The XHBX1501 Transformer Winding Deformation Tester utilizes frequency response analysis (FRA) methodology to accurately assess internal transformer faults by measuring characteristic winding parametersهذه الأداة التشخيصية المتقدمة تحدد كمية تغيرات الاستجابة عبر مجالات التردد المختلفة لتحديد شدة تشوه التلفتمكين القرارات المستنيرة حول متطلبات صيانة المحول.
المواصفات التقنية
المعلم
القيمة
سرعة الاختبار
1-2 دقيقة لكل دورة لف
نطاق اختبار المسح
100 هرتز-2 ميغاهرتز
نطاق اختبار النطاق
-100dB إلى 20dB
عائق إشارة الإخراج
1MΩ
فولتاج الخروج للإشارة
50Ω
أبعاد الجهاز
310×400×330ملم (حاوية من الألومنيوم)
دقة تردد الفحص
0.005٪
الخصائص الرئيسية
ميكرو معالج عالي السرعة مع تكامل متقدم
خيارات الاتصال المزدوجة: منفذ USB و Bluetooth اختياري
تكنولوجيا DDS الرقمية لتحديد الترددات (الولايات المتحدة الأمريكية) لتشخيص الأخطاء الدقيق بما في ذلك التواء والتكبيس والنزوح وكشف الدائرة القصيرة
عينة A/D مزدوجة القنوات عالية السرعة ذات 16 بت مع تغييرات واضحة في شكل الموجة أثناء تشغيل آلة تغيير المفاتيح
نطاق خروج الإشارة القابل للتعديل البرمجياً (± 10 فولت ذروة)
تحليل نتائج الاختبار التلقائي مع توليد مستند Word
أنظمة قياس مزدوجة: أنماط تردد مسح خطية ومقسمة
تتوافق مع معيار الطاقة DL/T911-2004 لتحليل تشوه التلفيف
تحليل البيانات المتقدم مع قدرات المقارنة الأفقية (المرحلة A-B-C) والطولية (التاريخية مقابل الحالية)
خيارات مرنة لمؤشر التردد (خطية أو اللوغاريتمية) لتوليد منحنى مخصص