المنزل > المنتجات >

اختبار تشوه الملفوفة للمحول مع المعالج الصغير

Name: اختبار تشوه الملفوفة للمحول مع المعالج الصغير
Brand: Xi'an Xu&Hui Electromechanical Technology Co., Ltd.
SKU: إكس إتش بي إكس 1502
Price: 4,115.00 USD
Availability: InStock

تفاصيل المنتج:

مكان المنشأ:	شيان شنشي الصين
اسم العلامة التجارية:	XZH TEST
إصدار الشهادات:	ISO CE
رقم الموديل:	إكس إتش بي إكس 1502

معلومات مفصلة

مكان المنشأ:

شيان شنشي الصين

اسم العلامة التجارية:

XZH TEST

إصدار الشهادات:

ISO CE

رقم الموديل:

إكس إتش بي إكس 1502

إبراز:

High Light

إبراز:

اختبار تشوه الميكرومعالج عالي السرعة,محلل استجابة التردد المتكامل للغاية,اختبار نظام جمع البيانات FRA

Highly Integrated Frequency Response Analyzer

Data Acquisition System FRA Tester

Trading Information

الحد الأدنى لكمية:

1 مجموعة

تفاصيل التغليف:

التعبئة الخشبية

وقت التسليم:

5-8 أيام عمل

شروط الدفع:

تي/تي

القدرة على العرض:

3000 وحدة / سنة

وصف المنتج

XHBX1502

بمجرد الانتهاء من تصميم وتصنيع المحول، يتم تعيين لفائفها والبنية الداخلية بشكل دائم.إذا كانت تتشارك نفس فئة الجهد وطريقة التلف، سيتم تحديد المعلمات المقابلة (Ci ، Li) لكل لفائف. وبالتالي يتم تحديد الاستجابة المميزة لمجال التردد لكل لفائف ،و أطياف التردد من الملفات الثلاثية المراحل المقابلة تظهر درجة معينة من المقارنة.

الدوائر القصيرة المتداخلة أو المرحلة إلى المرحلة التي تحدث أثناء اختبار المحول ، والاصطدامات المستمرة أثناء النقل (التي تسبب تحريكًا نسبيًا للملفات) ،وتشوه الملفات المتحركة التي تسببها القوى الكهرومغناطيسية خلال الدائرة القصيرة أو ظروف الخطأ في التشغيل سوف تغير جميع المعلمات الموزعة من طيات المحولاتهذا بدوره يؤثر ويعدل خصائص مجال التردد الأصلي للمحول، وتحديداً، تغيرات النطاق في استجابة التردد وتغيرات في نقاط تردد الرنين.اختبار التلف التحولي، تم تطويره على أساس أساليب تحليل الاستجابة، هو جهاز اختبار مبتكر غير مدمر للكشف عن الأخطاء الداخلية في المحولات.وهو مناسب لاختبار الأخطاء الهيكلية الداخلية في محولات الطاقة تتراوح من 63kV إلى 500kV.

يحدد اختبار التلفيف في المحول تغيرات الاستجابة لمعلمات التلفيف الداخلية للمحول عبر مجالات تردد مختلفة.يحدد درجة التغير في الملفات الداخلية للمحول من خلال تحليل حجم هذه الاختلافات في المعلماتعلى أساس نتائج القياس،ثم يسمح بالحكم على ما إذا كان المحول قد عانى من تلف شديد وما إذا كان هناك حاجة إلى صيانة كبيرة.

المعلمات التقنية

نطاق قياس تردد المسح	(10 هرتز) - 10 ميغاهرتز) ، 40000 نقطة مسح، دقة 0.25 كيه هرتز، 0.5 كيه هرتز، و 1 كيه هرتز
نطاق قياس تردد المسح	(0.5 كيلو هرتز) - ((1 ميغاهرتز) ، 2000 نقطة مسح
الرطوبة النسبية	< 90%، غير مكثفة
درجة حرارة العمل	-10°C إلى +40°C
درجة حرارة التخزين	-20°C إلى +70°C
إمكانية تكرار الاختبار أثناء المرحلة	99.9٪

اختبار تشوه الملفوفة للمحول مع المعالج الصغير 0

خصائص طريقة استجابة التردد:

1يحتوي اختبار تشوه التلفيف على وحدة قياس وبرنامج تحليل.يتم التحكم في وحدة القياس بواسطة جهاز كمبيوتر صغير ذو شريحة واحدة عالية السرعة ويتكون من مكونات لتوليد الإشارة وقياس الإشارةتتصل وحدة القياس بكمبيوتر لوحي أو كمبيوتر محمول عبر واجهة USB.

2أثناء الاختبار ، لا يحتاج إلغاء الاتصال إلا بعوارض الاتصال في المحول ؛ يمكن إكمال جميع الاختبارات دون رفع غطاء المحول أو تفكيك المحول.

3يحتوي الجهاز على العديد من أنظمة قياس التردد الخطي ، مع نطاق التردد الخطي حتى [قيمة التردد].

العلامات:

اختبار تشوه الملفوفة للمحول مع المعالج الصغير

High Light

إبراز:

اختبار تشوه الميكرومعالج عالي السرعة,محلل استجابة التردد المتكامل للغاية,اختبار نظام جمع البيانات FRA

Highly Integrated Frequency Response Analyzer

Data Acquisition System FRA Tester

20A winding resistance tester,DC winding resistance tester,DC winding resistance meter,

اختبار تشوه الميكرومعالج عالي السرعة,محلل استجابة التردد المتكامل للغاية,اختبار نظام جمع البيانات FRA,

DC winding resistance meter

جهاز اختبار المحولات مع المسح الخطي وتحليل الاستجابة الترددية

اختبار المحول المحمول مع واجهات لاسلكية

محلل تشوه لفائف المحولات بواجهة USB

اختبار تشوه التلفيف في المحول مع FRA و DDS

جهاز اختبار المقاومة المستمرة بشاشة لمس وتشغيل بزر واحد

مقياس مقاومة التيار المستمر بشاشة لمس 7 بوصة مع شاشة رقمية لاختبار المحولات المحمولة

اختبار المقاومة المتواصلة مع شاشة LCD