يستخدم جهاز اختبار تشوه لفات المحولات XHBX1501 تقنية متقدمة لتحليل الاستجابة الترددية (FRA) لتشخيص أعطال المحولات الداخلية بدقة. من خلال قياس المعلمات المميزة لفات المحولات عبر مجالات تردد مختلفة، يقوم هذا الجهاز بقياس التغيرات في الاستجابة لتحديد شدة تشوه اللفات. يوفر النظام بيانات تشخيصية واضحة لتقييم ما إذا كانت المحولات تتطلب صيانة أو إصلاحًا — مما يوفر الدقة الإثباتية اللازمة لتحقيقات الأعطال وتقييمات التأمين.تقنية التشخيصيستخدم XHBX1501 تقنية المسح الترددي عالي السرعة DDS (التوليف الرقمي المباشر) للتشخيص الدقيق للأعطال عبر نطاق مسح من 100 هرتز إلى 2 ميجاهرتز. يلتقط نظام أخذ عينات A/D عالي السرعة ثنائي القناة بدقة 16 بت بيانات سعة واستجابة الطور في وقت واحد، مما يتيح تحديد:
![]()
إزاحة وإمالة الملفاتتشوه قصر الدائرة بين اللفاتأعطال قصر الدائرة بين الأطوار
| دقة تردد المسح | 0.005% |
| مقاومة خرج الإشارة | 50 أوم |
| مقاومة دخل الإشارة | 1 ميجا أوم |
| سعة خرج الإشارة | ±10 فولت ذروة (قابلة للتعديل بالبرنامج) |
| أخذ عينات A/D | ثنائي القناة 16 بت عالي السرعة |
| سرعة الاختبار | 1-2 دقيقة لكل لف طور |
| الاتصال | USB + بلوتوث لاسلكي اختياري |
| الأبعاد | 310 × 400 × 330 مم (علبة ألومنيوم) |
| معيار الامتثال | DL/T911-2004 |
| أسئلة متكررة | س1: كيف يدعم اختبار تشوه اللفات القائم على تحليل الاستجابة الترددية تحقيقات الأعطال الجنائية؟ |
| ينشئ تحليل الاستجابة الترددية بصمة كهربائية فريدة لكل لف محول. بعد وقوع حدث عطل — سواء كان ذلك بسبب قوى قصر الدائرة، أو تلف النقل، أو عيوب التصنيع — يقارن XHBX1501 الاستجابة الترددية بعد الحادث بمنحنيات خط الأساس أو وحدات الأشقاء لتحديد اللفات التي تعرضت للتشوه، وشدة الإزاحة، وما إذا كان نمط الضرر متوافقًا مع آلية الفشل المزعومة. توفر منهجية المقارنة المزدوجة (مقارنة الطور الأفقي A-B-C + اتجاهي قبل/بعد) أدلة موضوعية وقابلة للقياس مناسبة لتحليل السبب الجذري، وإثبات مطالبات التأمين، وحل نزاعات الضمان. | س2: ما هي أنواع عيوب اللفات التي يمكن لـ XHBX1501 تحديدها؟ |
![]()